Jump to the content of the page

บริษัท ฟิสเชอร์ ขอนำเสนอเครื่องมือวัดเฉพาะทาง ใช้ในอุตสาหกรรม และ ชิ้นส่วนที่เกี่ยวข้องอื่นๆ ค้นหาเครื่องมือวัดที่เหมาะสมสำหรับการวัดของคุณได้ที่นี่:

เลือกประเภทของอุตสาหกรรมกำลังโหลด…

เลือกประเภทของแอปพลิเคชั่นกำลังโหลด…

ค้นหาสินค้า

ป้อนชื่อผลิตภัณฑ์หรือชื่อรุ่นที่ต้องการและส่งผ่านช่องทางผลลัพท์ที่แนะนำ

แสดงผลิตภัณฑ์ทั้งหมด

Fischer Worldwide:Select language:

แสดง / ซ่อนเมนู

เวลาสำหรับคุกกี้และการตั้งค่า

เว็บไซต์นี้ใช้คุกกี้ซึ่งจำเป็นสำหรับการดำเนินการเพื่อให้การวิเคราะห์ทางสถิติเพื่อให้คุณสามารถแบ่งปันเนื้อหาในเครือข่ายสังคมออนไลน์หรือเพื่อแสดงโฆษณาที่ตรงกับความสนใจของคุณ <strong> คุณยอมรับระดับก่อนหน้าโดยคลิกที่ปุ่มที่เกี่ยวข้องทั้งนี้ขึ้นอยู่กับระดับที่เปิดใช้งาน การคลิก "ยืนยันการเลือก" หรือ "เลือก & amp; amp; ยืนยันทั้งหมด" แสดงว่าคุณยินยอมตาม Art 49 ย่อหน้า 1 P. 1 สว่าง GDPR เพื่อให้ข้อมูลของคุณได้รับการประมวลผลโดยบริการที่เกี่ยวข้องในสหรัฐอเมริกา </strong>

นโยบายความเป็นส่วนตัว & เปลี่ยนการตั้งค่า รายละเอียดข้อมูล

เครื่องมือวัดแผ่นเวเฟอร์และเซมิคอนดักเตอร์

Composition Analysis of 2.5D / 3D Packaging | Layer Thickness

แผ่นเวเฟอร์และเซมิคอนดักเตอร์

Fischer นำเสนอเครื่องมือ ED-XRF ที่สะดวก รวดเร็ว แม่นยำ และเชื่อถือได้ สำหรับการวิเคราะห์ความหนาของชั้นและองค์ประกอบของโซลูชั่นบรรจุภัณฑ์ 2.5D / 3D ขั้นสูง สามารถใช้ได้เป็นเครื่องมือวัดแบบสแตนด์อโลน หรือ แบบอัตโนมัติ

กรณีศึกษา

การวิเคราะห์วัสดุของบัดกรีบัดกรีในบรรจุภัณฑ์วงจรรวม

ผลิตภัณฑ์

อยู่เคียงข้างคุณเสมอ

– เปลี่ยนตำแหน่ง ที่อยู่:

ติดต่อทางอีเมล: เบอร์ติดต่อ:
Linkedin Instagram Youtube Twitter Facebook Xing

Fischer –ทั่วโลก

เปลี่ยนตำแหน่ง ที่อยู่

/

ติดต่อโดยตรง:
เบอร์โทรศัพท์:
เบอร์โทรศัพท์:

แบบฟอร์มการติดต่อ

Jump to the top of the page